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STB30N65M2AG

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分立半导体产品 > 晶体管 > FET,MOSFET > 单 FET,MOSFET
制造厂商:ST(意法半导体)
功能简述:MOSFET N-CH 650V 20A D2PAK
原厂封装:封装:TO-263(D2PAK)
优势价格,STB30N65M2AG的国内现货当天可发货,国外现货7-10天发货
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STB30N65M2AG的功能参数资料 - ST公司(意法半导体)提供

意法半导体(STMicroelectronics)推出的STB30N65M2AG是一款采用MDmesh M2超结技术的N沟道功率MOSFET。该器件基于先进的垂直架构设计,通过优化单元密度和电荷平衡,在高压条件下实现了极低的导通电阻(RDS(on))与栅极电荷(QG)乘积,这一特性对于提升开关电源的效率至关重要。其650V的漏源击穿电压(VDSS)确保了在工业级AC-DC变换或电机驱动等应用中具备充足的电压裕量,增强了系统的可靠性。

该MOSFET在10V栅极驱动电压下,导通电阻典型值远低于180毫欧(@10A),这直接转化为更低的通态损耗。同时,其栅极总电荷(Qg)最大值控制在30.8nC,结合较低的输入电容(Ciss),使得开关速度更快,开关损耗显著降低,尤其适合高频开关应用。器件具备优异的体二极管反向恢复特性,有助于减少硬开关拓扑中的电压尖峰和电磁干扰(EMI)。其栅源电压(VGS)耐受范围达±25V,提供了更强的抗干扰能力。

在电气参数方面,STB30N65M2AG在壳温(TC)条件下可支持20A的连续漏极电流,最大功耗达190W。其阈值电压(VGS(th))典型值适中,确保了驱动的便利性与抗误触发的平衡。该器件采用坚固的D2PAK(TO-263)表面贴装封装,具有良好的散热性能和功率处理能力,工作结温范围宽达-55°C至150°C,满足严苛环境下的稳定运行需求。对于需要可靠供应链支持的客户,可以通过授权的ST芯片代理获取此型号及其相关技术支持。

凭借其高性能与高可靠性,此器件主要面向要求严苛的汽车电子(符合AEC-Q101标准)与工业应用。典型应用场景包括开关模式电源(SMPS)的PFC(功率因数校正)级和DC-DC变换器、工业电机驱动与变频器、UPS(不间断电源)以及高效照明(如LED驱动)的功率开关部分。其设计旨在帮助工程师在提升系统功率密度和整体能效的同时,简化热管理设计。

  • 型号:STB30N65M2AG
  • 品牌:STMicroelectronics (ST,意法半导体)
  • 封装:TO-263(D2PAK)
  • 类目:分立半导体产品 > 晶体管 > FET,MOSFET > 单 FET,MOSFET
  • 描述:MOSFET N-CH 650V 20A D2PAK
  • 系列:-
  • 包装:卷带(TR)
  • 产品状态:停产
  • FET 类型:N 通道
  • 技术:MOSFET(金属氧化物)
  • 漏源电压(Vdss):650 V
  • 25°C 时电流 - 连续漏极 (Id):20A(Tc)
  • 驱动电压(最大 Rds On,最小 Rds On):10V
  • 不同 Id、Vgs 时导通电阻(最大值):180 毫欧 @ 10A,10V
  • 不同 Id 时 Vgs(th)(最大值):4V @ 250A
  • 不同 Vgs 时栅极电荷(Qg)(最大值):30.8 nC @ 10 V
  • Vgs(最大值):±25V
  • 不同 Vds 时输入电容 (Ciss)(最大值):1440 pF @ 100 V
  • FET 功能:-
  • 功率耗散(最大值):190W(Tc)
  • 工作温度:-55°C ~ 150°C(TJ)
  • 等级:汽车级
  • 资质:AEC-Q101
  • 安装类型:表面贴装型
  • 供应商器件封装:TO-263(D2PAK)
  • 封装/外壳:TO-263-3,D2PAK(2 引线 + 凸片),TO-263AB
  • 想获取STB30N65M2AG的更多功能参数资料?请在本页面右侧在线下载技术资料

STB30N65M2AG是ST意法半导体推出的一款N沟道功率MOSFET,采用D2PAK封装,专为高要求应用而设计。其核心优势在于650V的漏源电压(Vdss)和20A的连续漏极电流能力,结合MDmesh M2技术实现了低至180毫欧的导通电阻(Rds(on))与30.8nC的低栅极电荷(Qg),这使其在高压开关应用中能同时降低导通损耗和开关损耗,提升整体能效。

该器件符合AEC-Q101标准,适用于汽车电子环境,工作结温范围宽达-55°C至150°C,确保了在恶劣条件下的可靠性。其10V的标准驱动电压和±25V的栅源电压耐受范围,提供了稳健的驱动接口。这些特性使其成为开关电源(SMPS)、电机驱动和功率转换等高效、高可靠性设计的理想选择。

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