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STB36N60M6

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分立半导体产品 > 晶体管 > FET,MOSFET > 单 FET,MOSFET
制造厂商:ST(意法半导体)
功能简述:MOSFET N-CH 600V 30A D2PAK
原厂封装:封装:TO-263(D2PAK)
优势价格,STB36N60M6的国内现货当天可发货,国外现货7-10天发货
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STB36N60M6的功能参数资料 - ST公司(意法半导体)提供

意法半导体(STMicroelectronics)推出的STB36N60M6是一款采用先进MDmesh M6技术的N沟道功率MOSFET。该器件基于优化的垂直结构设计,在单晶片上实现了超结(Super-Junction)特性,旨在显著降低单位面积下的导通电阻(RDS(on))与栅极电荷(QG)的乘积,即优值系数(FOM)。这一核心架构的改进,使得器件在高速开关应用中能够同时兼顾低导通损耗与低开关损耗,为提升系统整体能效奠定了坚实基础。

得益于MDmesh M6技术,STB36N60M6在600V的漏源电压(VDSS)额定值下,展现出卓越的电气性能。其导通电阻在结温(TC)25°C、栅源电压(VGS)为10V、漏极电流(ID)为15A的条件下,典型值低至99毫欧,确保了在导通状态下的功率损耗最小化。同时,其栅极总电荷(QG)在VGS=10V时最大仅为44.3nC,结合较低的输入电容(Ciss),大幅降低了驱动电路的负担,有利于实现更高频率的开关操作并简化栅极驱动设计。该器件在壳温下可承受30A的连续漏极电流,最大功率耗散达208W,工作结温范围宽至-55°C至150°C,提供了强大的过载能力和可靠的工作范围。其采用坚固的D2PAK(TO-263)表面贴装封装,具有良好的散热性能和机械强度,适合自动化贴装生产。如需获取官方技术支持和供货信息,可以咨询ST中国代理

在接口与参数方面,STB36N60M6的栅极驱动电压范围宽,标准驱动电压为10V,最大栅源电压可承受±25V,增强了抗干扰能力。其阈值电压VGS(th)最大值为4.75V(在ID=250A条件下),提供了充足的噪声容限。这些参数共同塑造了一款兼具高性能与高鲁棒性的功率开关器件。

基于其高耐压、低损耗和快速开关的特性,STB36N60M6非常适用于要求高效率和高功率密度的应用场景。典型应用包括开关模式电源(SMPS)的PFC(功率因数校正)级和主逆变级、工业电机驱动与变频器、不间断电源(UPS)、太阳能逆变器以及电焊机等功率转换设备。在这些应用中,它能够有效提升系统效率,减小散热器尺寸,从而帮助设计者实现更紧凑、更节能的电源解决方案。

  • 型号:STB36N60M6
  • 品牌:STMicroelectronics (ST,意法半导体)
  • 封装:TO-263(D2PAK)
  • 类目:分立半导体产品 > 晶体管 > FET,MOSFET > 单 FET,MOSFET
  • 描述:MOSFET N-CH 600V 30A D2PAK
  • 包装:卷带(TR)
  • 产品状态:在售
  • FET 类型:N 通道
  • 技术:MOSFET(金属氧化物)
  • 漏源电压(Vdss):600 V
  • 25°C 时电流 - 连续漏极 (Id):30A(Tc)
  • 驱动电压(最大 Rds On,最小 Rds On):10V
  • 不同 Id、Vgs 时导通电阻(最大值):99 毫欧 @ 15A,10V
  • 不同 Id 时 Vgs(th)(最大值):4.75V @ 250A
  • 不同 Vgs 时栅极电荷(Qg)(最大值):44.3 nC @ 10 V
  • Vgs(最大值):±25V
  • 不同 Vds 时输入电容 (Ciss)(最大值):1960 pF @ 100 V
  • FET 功能:-
  • 功率耗散(最大值):208W(Tc)
  • 工作温度:-55°C ~ 150°C(TJ)
  • 等级:-
  • 资质:-
  • 安装类型:表面贴装型
  • 供应商器件封装:TO-263(D2PAK)
  • 封装/外壳:TO-263-3,D2PAK(2 引线 + 凸片),TO-263AB
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STB36N60M6是ST意法半导体基于MDmesh M6技术开发的一款N沟道功率MOSFET,采用D2PAK封装。其核心优势在于600V的漏源电压(VDSS)和30A(TC)的连续漏极电流额定值,为高压大电流应用提供了坚实的基础。

该器件的关键电气参数突出了其高效能特性:导通电阻(RDS(on))低至99mΩ(@15A, 10V),有助于显著降低导通损耗;同时,其栅极电荷(QG)最大值仅为44.3nC(@10V),有利于实现快速开关并降低驱动损耗。宽泛的工作结温范围(-55°C ~ 150°C)和208W(TC)的功率耗散能力,则确保了其在严苛环境下的高可靠性。

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