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STB9NK60ZDT4

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分立半导体产品 > 晶体管 > FET,MOSFET > 单 FET,MOSFET
制造厂商:ST(意法半导体)
功能简述:MOSFET N-CH 600V 7A D2PAK
原厂封装:封装:D2PAK
优势价格,STB9NK60ZDT4的国内现货当天可发货,国外现货7-10天发货
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STB9NK60ZDT4的功能参数资料 - ST公司(意法半导体)提供

STB9NK60ZDT4是意法半导体(STMicroelectronics)基于其SuperFREDmesh技术平台开发的一款N沟道功率MOSFET。该器件采用先进的平面工艺和单元结构设计,旨在实现高击穿电压与低导通电阻之间的优化平衡。其核心架构通过精细的栅极设计和优化的掺杂剖面,有效控制了电场分布,从而在600V的高压等级下,依然能保持出色的开关性能和可靠性。这种设计理念使其在硬开关和软开关拓扑中均能表现出较低的开关损耗和电磁干扰(EMI)。

该MOSFET的显著特性在于其优异的动态和静态参数组合。其导通电阻(Rds(on))在10V栅极驱动电压、3.5A漏极电流条件下典型值仅为950毫欧,这直接转化为更低的传导损耗,有助于提升系统整体能效。同时,其栅极总电荷(Qg)最大值控制在53nC,结合1110pF的输入电容(Ciss),意味着器件具有快速的开关速度和较低的栅极驱动需求,有助于简化驱动电路设计并减少开关过程中的功率损耗。其栅源电压(Vgs)耐受范围达到±30V,提供了较强的抗干扰能力和设计裕度。

在接口与参数方面,STB9NK60ZDT4采用标准的表面贴装D2PAK封装,具有良好的功率耗散能力,在壳温(Tc)条件下最大功耗可达125W,工作结温范围为-55°C至150°C,确保了其在严苛环境下的稳定运行。其连续漏极电流(Id)在壳温条件下额定值为7A,漏源击穿电压(Vdss)为600V,阈值电压(Vgs(th))最大值为4.5V,这些参数共同定义了其在高压、中电流应用场景中的适用边界。对于需要可靠供应链支持的客户,可以通过ST授权代理获取详细的技术支持和供货信息。

基于其600V/7A的额定规格和SuperFREDmesh技术带来的性能优势,该器件非常适合应用于要求高效率和高可靠性的离线式开关电源(SMPS)中,例如服务器电源、通信电源的PFC(功率因数校正)级和DC-DC变换器主开关。此外,它也适用于工业电机驱动、照明镇流器以及UPS(不间断电源)系统中的功率开关部分。其快速开关特性使其在谐振拓扑(如LLC)中也能有效工作,有助于实现高功率密度设计。

  • 型号:STB9NK60ZDT4
  • 品牌:STMicroelectronics (ST,意法半导体)
  • 封装:D2PAK
  • 类目:分立半导体产品 > 晶体管 > FET,MOSFET > 单 FET,MOSFET
  • 描述:MOSFET N-CH 600V 7A D2PAK
  • 包装:卷带(TR)
  • 产品状态:停产
  • FET 类型:N 通道
  • 技术:MOSFET(金属氧化物)
  • 漏源电压(Vdss):600 V
  • 25°C 时电流 - 连续漏极 (Id):7A(Tc)
  • 驱动电压(最大 Rds On,最小 Rds On):10V
  • 不同 Id、Vgs 时导通电阻(最大值):950 毫欧 @ 3.5A,10V
  • 不同 Id 时 Vgs(th)(最大值):4.5V @ 100A
  • 不同 Vgs 时栅极电荷(Qg)(最大值):53 nC @ 10 V
  • Vgs(最大值):±30V
  • 不同 Vds 时输入电容 (Ciss)(最大值):1110 pF @ 25 V
  • FET 功能:-
  • 功率耗散(最大值):125W(Tc)
  • 工作温度:-55°C ~ 150°C(TJ)
  • 等级:-
  • 资质:-
  • 安装类型:表面贴装型
  • 供应商器件封装:D2PAK
  • 封装/外壳:TO-263-3,D2PAK(2 引线 + 凸片),TO-263AB
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STB9NK60ZDT4是ST意法半导体推出的一款N沟道功率MOSFET,隶属于其高性能SuperFREDmesh产品系列。该器件采用D2PAK表面贴装封装,核心额定参数为600V漏源电压(Vdss)与7A连续漏极电流(Id),为高压开关应用提供了坚实的基础。

其技术亮点在于实现了低导通损耗与快速开关特性的良好结合。在10V栅极驱动下,其导通电阻(Rds(on))典型值低至950毫欧,同时栅极总电荷(Qg)最大值仅为53nC。这种参数组合有助于提升电源系统的转换效率,并降低开关损耗。器件支持-55°C至150°C的宽结温工作范围,最大功耗125W,确保了在 demanding 应用环境下的鲁棒性与可靠性。

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