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STL150N3LLH6

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分立半导体产品 > 晶体管 > FET,MOSFET > 单 FET,MOSFET
制造厂商:ST(意法半导体)
功能简述:MOSFET N-CH 30V 150A POWERFLAT
原厂封装:封装:PowerFlat(5x6)
优势价格,STL150N3LLH6的国内现货当天可发货,国外现货7-10天发货
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STL150N3LLH6的功能参数资料 - ST公司(意法半导体)提供

意法半导体(STMicroelectronics)推出的STL150N3LLH6是一款采用先进PowerFlat(5x6)封装的N沟道功率MOSFET。该器件隶属于STripFET VI产品系列,并应用了DeepGATE技术,旨在通过优化的单元结构和沟槽工艺,在紧凑的封装尺寸内实现极低的导通电阻与优异的开关性能。其核心设计理念是在30V的电压等级下,为高电流应用提供一个高效率、高功率密度的半导体开关解决方案。

该MOSFET的显著特性在于其卓越的电流处理能力与极低的功率损耗。在壳温(Tc)条件下,其连续漏极电流(Id)额定值高达150A,而导通电阻(Rds(on))在10V栅极驱动电压(Vgs)和16.5A测试电流下,最大值仅为2.4毫欧。这种低Rds(on)特性直接转化为更低的导通损耗,对于提升系统整体效率至关重要。同时,其栅极电荷(Qg)最大值仅为40nC(@4.5V),结合适中的输入电容(Ciss),有助于降低开关过程中的驱动损耗,实现快速、高效的开关动作,这对于高频开关应用如DC-DC转换器尤为重要。

在电气参数方面,STL150N3LLH6具备30V的漏源击穿电压(Vdss),栅源电压(Vgs)可承受±20V,提供了稳健的驱动安全裕度。其阈值电压(Vgs(th))典型值较低,确保了在标准逻辑电平驱动下的良好导通能力。器件采用表面贴装技术,PowerFlat封装不仅提供了优异的散热性能,支持高达80W(Tc)的功率耗散,而且显著减小了PCB板上的占位面积,符合现代电子设备小型化的趋势。其宽泛的工作结温范围(-55°C至150°C)保证了在苛刻环境下的可靠运行。对于需要稳定供货与技术支持的客户,可以通过授权的ST芯片代理获取相关服务与库存信息。

基于其高电流、低损耗和紧凑封装的特点,该器件非常适合用于对空间和效率有严苛要求的功率管理场景。典型应用包括服务器和电信设备的高密度DC-DC同步整流电机驱动控制(如电动工具、无人机)、电池保护电路以及各类负载开关和电源分配单元。尽管该产品目前已处于停产状态,但其设计所体现的高性能与高功率密度理念,仍在相关应用领域具有重要的参考价值。

  • 型号:STL150N3LLH6
  • 品牌:STMicroelectronics (ST,意法半导体)
  • 封装:PowerFlat(5x6)
  • 类目:分立半导体产品 > 晶体管 > FET,MOSFET > 单 FET,MOSFET
  • 描述:MOSFET N-CH 30V 150A POWERFLAT
  • 包装:卷带(TR)
  • 产品状态:停产
  • FET 类型:N 通道
  • 技术:MOSFET(金属氧化物)
  • 漏源电压(Vdss):30 V
  • 25°C 时电流 - 连续漏极 (Id):150A(Tc)
  • 驱动电压(最大 Rds On,最小 Rds On):4.5V,10V
  • 不同 Id、Vgs 时导通电阻(最大值):2.4 毫欧 @ 16.5A,10V
  • 不同 Id 时 Vgs(th)(最大值):1V @ 250A
  • 不同 Vgs 时栅极电荷(Qg)(最大值):40 nC @ 4.5 V
  • Vgs(最大值):±20V
  • 不同 Vds 时输入电容 (Ciss)(最大值):4040 pF @ 25 V
  • FET 功能:-
  • 功率耗散(最大值):80W(Tc)
  • 工作温度:-55°C ~ 150°C(TJ)
  • 等级:-
  • 资质:-
  • 安装类型:表面贴装型
  • 供应商器件封装:PowerFlat(5x6)
  • 封装/外壳:8-PowerVDFN
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STL150N3LLH6是ST意法半导体生产的一款N沟道功率MOSFET,采用先进的PowerFlat(5x6)表面贴装封装。该器件隶属于STripFET VI系列,应用DeepGATE技术,在30V的漏源电压(Vdss)下,能够持续处理高达150A(Tc)的电流,展现出强大的功率处理能力。

其核心优势在于极低的导通电阻,最大值仅为2.4毫欧(@10V Vgs),这能显著降低导通状态下的功率损耗,提升系统效率。同时,较低的栅极电荷(40nC @4.5V)有利于实现快速开关,减少开关损耗。这些特性使其成为空间受限且对效率要求极高的功率转换和电机驱动应用的理想选择。

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