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STN4NF06L

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分立半导体产品 > 晶体管 > FET,MOSFET > 单 FET,MOSFET
制造厂商:ST(意法半导体)
功能简述:MOSFET N-CH 60V 4A SOT-223
原厂封装:封装:SOT-223
优势价格,STN4NF06L的国内现货当天可发货,国外现货7-10天发货
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STN4NF06L的功能参数资料 - ST公司(意法半导体)提供

STN4NF06L是意法半导体(STMicroelectronics)基于其成熟的STripFET II技术平台开发的一款N沟道功率MOSFET。该器件采用先进的沟槽栅工艺,在紧凑的SOT-223封装内实现了优异的导通电阻与栅极电荷乘积(Rds(on)*Qg),这一核心架构设计使其在开关应用中能有效降低传导损耗和开关损耗,提升整体能效。其优化的单元结构确保了在高达60V的漏源电压(Vdss)下具备可靠的雪崩耐量和稳健性,为设计提供了宽裕的安全裕度。

在功能特性方面,该MOSFET展现出卓越的易驱动性和高效率。其最大栅源阈值电压(Vgs(th))仅为2.8V,配合标准逻辑电平(5V或10V)即可实现充分导通,极大简化了驱动电路设计,尤其适用于由微控制器或低压逻辑电路直接驱动的场景。在10V Vgs条件下,其导通电阻(Rds(on))典型值极低,这直接转化为更低的通态压降和发热量。同时,其栅极总电荷(Qg)最大值仅为9nC,结合340pF的输入电容(Ciss),意味着开关过程中所需的驱动能量小,能够实现高速开关并减少驱动级的功耗,这对于高频PWM应用至关重要。其工作结温范围覆盖-55°C至150°C,确保了在严苛环境下的稳定运行。

从接口与电气参数来看,STN4NF06L提供了平衡的性能组合。其连续漏极电流(Id)在壳温条件下额定为4A,最大功率耗散为3.3W,适合处理中等功率等级。表面贴装的SOT-223封装在节省PCB空间的同时,提供了优于SOT-23的散热能力,便于通过PCB铜箔进行热管理。栅极允许的电压范围(Vgs)为±16V,增强了抗栅极噪声干扰的能力。对于需要可靠供应链和技术支持的客户,可以通过授权的ST代理商获取原厂正品和完整的设计资源。

基于其60V的耐压、4A的电流能力以及优异的开关特性,该器件非常适合多种应用场景。它常被用于DC-DC转换器中的同步整流或主开关、电机驱动电路中的H桥或半桥下管、以及各类负载开关和电源管理模块。在低压风扇驱动、电池供电设备、打印机和消费类电子产品的功率控制部分,都能找到其用武之地,是实现高效、紧凑型功率解决方案的关键元件之一。

  • 型号:STN4NF06L
  • 品牌:STMicroelectronics (ST,意法半导体)
  • 封装:SOT-223
  • 类目:分立半导体产品 > 晶体管 > FET,MOSFET > 单 FET,MOSFET
  • 描述:MOSFET N-CH 60V 4A SOT-223
  • 包装:卷带(TR)
  • 产品状态:在售
  • FET 类型:N 通道
  • 技术:MOSFET(金属氧化物)
  • 漏源电压(Vdss):60 V
  • 25°C 时电流 - 连续漏极 (Id):4A(Tc)
  • 驱动电压(最大 Rds On,最小 Rds On):5V,10V
  • 不同 Id、Vgs 时导通电阻(最大值):100 毫欧 @ 1.5A,10V
  • 不同 Id 时 Vgs(th)(最大值):2.8V @ 250A
  • 不同 Vgs 时栅极电荷(Qg)(最大值):9 nC @ 5 V
  • Vgs(最大值):±16V
  • 不同 Vds 时输入电容 (Ciss)(最大值):340 pF @ 25 V
  • FET 功能:-
  • 功率耗散(最大值):3.3W(Tc)
  • 工作温度:-55°C ~ 150°C(TJ)
  • 等级:汽车级
  • 资质:AEC-Q101
  • 安装类型:表面贴装型
  • 供应商器件封装:SOT-223
  • 封装/外壳:TO-261-4,TO-261AA
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STN4NF06L是ST意法半导体推出的一款采用STripFET II技术的N沟道MOSFET,采用SOT-223表面贴装封装。其核心电气参数定义了其在中等功率开关应用中的优势地位:60V的漏源电压(Vdss)和4A的连续漏极电流(Id)提供了稳健的功率处理能力。

该器件的关键卖点在于其优异的动态与静态性能平衡。其导通电阻(Rds(on))在10V驱动下表现突出,有效降低了传导损耗。同时,极低的栅极电荷(Qg)和输入电容(Ciss)确保了快速的开关速度和较低的驱动损耗,使其非常适合高频PWM操作。此外,其逻辑电平兼容的栅极驱动电压(典型5V/10V)简化了电路设计。宽泛的工作结温范围(-55°C ~ 150°C)则保证了其在各种环境条件下的可靠性。

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