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M74HC280RM13TR的图片

M74HC280RM13TR

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集成电路(IC) > 逻辑 > 奇偶校验发生器和校验器
制造厂商:ST(意法半导体)
功能简述:IC PARITY GEN 9-BIT 14-SO
原厂封装:封装:14-SO
优势价格,M74HC280RM13TR的国内现货当天可发货,国外现货7-10天发货
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M74HC280RM13TR的功能参数资料 - ST公司(意法半导体)提供

意法半导体(STMicroelectronics)推出的M74HC280RM13TR是一款采用高速CMOS(HC)工艺制造的9位奇偶发生器/校验器集成电路。该器件属于经典的74HC系列逻辑芯片,其核心功能在于对最多9位的并行输入数据(8个数据位和1个奇偶校验位)进行奇偶性计算与校验。它内部集成了专用的异或(XOR)门阵列逻辑,能够高效地检测数据在传输或存储过程中是否因单比特错误而导致奇偶性改变,是保障数据完整性的基础硬件单元。

该芯片具备宽泛的2V至6V供电电压范围,使其能够兼容多种逻辑电平系统,包括传统的5V TTL电平以及更低的电压应用。其输出级采用对称设计,输出高电平和低电平电流均可达5.2mA,提供了良好的扇出能力,能够直接驱动多个HC系列逻辑输入或小型负载。作为一款表面贴装器件,它采用14引脚的SOIC封装,封装宽度为3.90mm,适合高密度PCB板布局,并通过卷带(TR)或剪切带(CT)形式供货,便于自动化贴片生产。尽管该型号目前已处于停产状态,但在许多现有系统和维护备件中仍有需求,专业的ST芯片代理渠道是获取此类器件的重要来源。

在接口与参数方面,M74HC280RM13TR提供了两个主要的输出信号:奇偶和偶校验输出。当输入数据中“1”的数量为偶数时,偶校验输出为高电平;反之,奇校验输出为高电平。这种设计允许系统设计者灵活选择奇校验或偶校验协议。其工作温度范围覆盖-55°C至125°C的工业级乃至军品级标准,确保了在严苛环境下的可靠运行。快速的传输延迟特性(典型值在纳秒级)使其能够满足高速数据通路中的实时校验需求。

该芯片的典型应用场景广泛存在于需要数据可靠性保障的领域。它常被用于计算机内存子系统(如RAM模块)数据通信接口(如UART、并行总线)以及数字存储设备中,作为错误检测电路的第一道防线。通过实时生成或校验奇偶位,它能够有效侦测由噪声、干扰或硬件故障引起的单比特错误,从而触发系统进行错误重传或告警。尽管更复杂的纠错码(ECC)技术已在高端应用中普及,但对于成本敏感、且对单比特错误检测有要求的嵌入式系统、工业控制设备和通信模块而言,M74HC280RM13TR这类简单高效的奇偶校验芯片依然是经典且实用的解决方案。

  • 型号:M74HC280RM13TR
  • 品牌:STMicroelectronics (ST,意法半导体)
  • 封装:14-SO
  • 类目:集成电路(IC) > 逻辑 > 奇偶校验发生器和校验器
  • 描述:IC PARITY GEN 9-BIT 14-SO
  • 包装:卷带(TR)
  • 产品状态:停产
  • 逻辑类型:奇偶发生器
  • 电路数:9 位
  • 电流 - 输出高、低:5.2mA,5.2mA
  • 电压 - 供电:2 V ~ 6 V
  • 工作温度:-55°C ~ 125°C
  • 等级:-
  • 资质:-
  • 安装类型:表面贴装型
  • 封装/外壳:14-SOIC(0.154,3.90mm 宽)
  • 供应商器件封装:14-SO
  • 想获取M74HC280RM13TR的更多功能参数资料?请在本页面右侧在线下载技术资料

M74HC280RM13TR是ST意法半导体生产的一款9位奇偶发生器/校验器IC,属于74HC逻辑系列。该器件设计用于检测8位数据及1个校验位中的奇偶性错误,是确保数据完整性的基础元件。

它支持2V至6V的宽电压供电,兼容多种逻辑电平,并提供5.2mA的对称驱动能力。器件采用14-SOIC表面贴装封装,工作温度范围达-55°C至125°C,适用于工业级环境。尽管已停产,其在内存校验、通信接口错误检测等传统系统中仍有应用价值。

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