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STM32F777NIH6TR的图片

STM32F777NIH6TR

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集成电路(IC) > 嵌入式 > 微控制器
制造厂商:ST(意法半导体)
功能简述:IC MCU 32BIT 2MB FLASH 216TFBGA
原厂封装:封装:216-TFBGA(13x13)
优势价格,STM32F777NIH6TR的国内现货当天可发货,国外现货7-10天发货
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STM32F777NIH6TR的功能参数资料 - ST公司(意法半导体)提供

STM32F777NIH6TR是意法半导体(STMicroelectronics)推出的高性能STM32F7系列微控制器。该器件基于ARM Cortex-M7内核,运行频率高达216MHz,并集成了双精度浮点单元(FPU)和一级缓存,显著提升了处理复杂算法和实时控制任务的效率。其采用32位架构,并支持ART Accelerator和L1缓存技术,能够实现零等待周期的闪存执行性能,为要求严苛的应用提供了强大的计算基础。

该芯片集成了丰富的片上资源,包括高达2MB的闪存和512KB的SRAM,为大型应用程序和复杂数据结构提供了充足的存储空间。其外设组合非常全面,涵盖了多种工业标准通信接口,如以太网MAC、双CAN FD、多个USART/UART、IC、SPI以及USB OTG高速和全速接口。此外,它还配备了高级模拟功能,包括多达24个通道的12位ADC和2个12位DAC,以及用于音频处理的SAI和SPDIF接口。强大的DMA控制器和丰富的外设(如LCD-TFT控制器、硬件加密模块)进一步减轻了CPU的负载,优化了系统整体性能。

在接口与参数方面,STM32F777NIH6TR提供了多达159个可配置的I/O引脚,封装形式为216引脚TFBGA,适用于高密度PCB设计。其工作电压范围宽泛,为1.7V至3.6V,并内置了上电复位(POR)、掉电复位(PDR)和可编程电压检测器(PVD),增强了系统在复杂供电环境下的可靠性。工作温度范围覆盖工业级的-40°C至85°C,确保其在恶劣环境下稳定运行。对于需要可靠供应链和技术支持的客户,可以通过官方ST授权代理获取该产品及相关设计资源。

凭借其高性能核心、大容量存储和全面的连接性,该微控制器非常适合应用于需要强大处理能力和实时响应的领域。典型应用包括工业自动化中的高端PLC、电机驱动和机器人控制系统,消费电子中的智能家居网关和高端音频设备,以及需要复杂人机界面(HMI)的医疗仪器和物联网边缘计算节点。其集成的以太网和高级安全功能也使其成为网络连接设备和需要数据保护应用的理想选择。

  • 型号:STM32F777NIH6TR
  • 品牌:STMicroelectronics (ST,意法半导体)
  • 封装:216-TFBGA(13x13)
  • 类目:集成电路(IC) > 嵌入式 > 微控制器
  • 描述:IC MCU 32BIT 2MB FLASH 216TFBGA
  • 包装:卷带(TR)
  • 产品状态:在售
  • 南皇电子 可编程:未验证
  • 核心处理器:ARM Cortex-M7
  • 内核规格:32-位
  • 速度:216MHz
  • 连接能力:CANbus,EBI/EMI,以太网,I2C,IrDA,LINbus,MMC/SD/SDIO,QSPI,SAI,SPDIF,SPI,UART/USART,USB OTG
  • 外设:掉电检测/复位,DMA,I2S,LCD,POR,PWM,WDT
  • I/O 数:159
  • 程序存储容量:2MB(2M x 8)
  • 程序存储器类型:闪存
  • EEPROM 容量:-
  • RAM 大小:512K x 8
  • 电压 - 供电 (Vcc/Vdd):1.7V ~ 3.6V
  • 数据转换器:A/D 24x12b; D/A 2x12b
  • 振荡器类型:内部
  • 工作温度:-40°C ~ 85°C(TA)
  • 等级:-
  • 资质:-
  • 安装类型:表面贴装型
  • 供应商器件封装:216-TFBGA(13x13)
  • 封装/外壳:216-TFBGA
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STM32F777NIH6TR是一款基于ARM Cortex-M7内核的高性能32位微控制器,运行频率高达216MHz,并配备2MB闪存和512KB RAM,为处理复杂任务提供了强大的计算与存储基础。其核心优势在于实现了高性能与低功耗的平衡,并集成了双精度浮点单元以加速数学运算。

该器件提供了极其丰富的外设与连接选项,包括以太网、USB OTG、双CAN FD、多种串行通信接口以及24通道12位ADC和2通道12位DAC,满足多种工业与消费电子应用的接口需求。其159个I/O、宽电压工作范围(1.7V-3.6V)及-40°C至85°C的工业级工作温度,确保了设计的灵活性与在苛刻环境下的可靠性。

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