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TDA0161DP的图片

TDA0161DP

ST图标
集成电路(IC) > 接口 > 传感器和检测器接口
制造厂商:ST(意法半导体)
功能简述:IC PROXIMITY DETECTOR 8 MINIDIP
原厂封装:封装:8-DIP
优势价格,TDA0161DP的国内现货当天可发货,国外现货7-10天发货
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TDA0161DP的功能参数资料 - ST公司(意法半导体)提供

TDA0161DP是ST意法半导体推出的一款经典近距探测专用集成电路,采用8引脚MiniDIP封装,专为构建非接触式金属物体检测系统而设计。该器件内部集成了高频振荡器、检测线圈驱动电路、信号处理单元以及输出级,构成了一个完整的感应式接近探测解决方案。其核心工作原理基于电磁感应,通过驱动外部LC谐振回路产生交变电磁场,当金属物体进入该场范围内时,会引起回路能量损耗和振荡参数的变化,芯片内部的高灵敏度检测电路能够精确捕捉这一微小变化并将其转换为清晰的开关量输出信号。

该芯片的功能特点突出体现在其高集成度与易用性上。它仅需极少的外部元件(一个LC谐振线圈和几个阻容元件)即可构成一个完整的探测器,极大简化了系统设计。稳定的检测性能是其另一关键特性,内部电路设计有效抑制了环境温度变化和电源电压波动带来的影响,确保在宽温范围内(最高工作温度可达150°C)和一定供电电压范围内都能可靠工作。其输出级通常设计为集电极开路形式,具备良好的负载驱动能力和接口灵活性,可直接驱动继电器、光耦或作为微控制器的输入信号。对于需要可靠近距探测方案的设计者而言,通过专业的ST代理商获取原厂技术支持与正品器件至关重要。

在电气参数方面,TDA0161DP在典型应用下的供电电流约为12mA,功耗控制得当。其检测灵敏度可通过外部LC回路的参数进行调节,以适应不同尺寸金属物体和探测距离的要求。通孔式安装的8-DIP封装使其在早期工业控制板卡上易于焊接和更换,具备良好的机械稳固性。尽管该产品系列目前已处于停产状态,但其成熟的设计理念和经过大量应用验证的可靠性,使其在存量设备维护和特定继承性项目中仍具有参考价值。

该芯片典型的应用场景集中于工业自动化和安全控制领域。例如,在自动化生产线上用于检测金属工件的有无、计数或定位;在安防系统中作为金属物体靠近的报警传感器;在机械设备中用作限位或防撞检测。其非接触的工作方式避免了机械磨损,寿命长,特别适用于环境恶劣、需要高可靠性的场合。虽然新一代的探测技术不断涌现,但TDA0161DP所代表的感应式探测方案因其结构简单、成本效益高且抗干扰能力强,在诸多基础工业应用中依然占有一席之地。

  • 型号:TDA0161DP
  • 品牌:STMicroelectronics (ST,意法半导体)
  • 封装:8-DIP
  • 类目:集成电路(IC) > 接口 > 传感器和检测器接口
  • 描述:IC PROXIMITY DETECTOR 8 MINIDIP
  • 系列:-
  • 包装:管件
  • 产品状态:停产
  • 南皇电子 可编程:未验证
  • 类型:近距探测装置
  • 输入类型:-
  • 输出类型:-
  • 电流 - 供电:12 mA
  • 工作温度:150°C
  • 等级:-
  • 资质:-
  • 安装类型:通孔
  • 封装/外壳:8-DIP(0.300,7.62mm)
  • 供应商器件封装:8-DIP
  • 想获取TDA0161DP的更多功能参数资料?请在本页面右侧在线下载技术资料

TDA0161DP是ST意法半导体生产的一款高集成度感应式接近探测芯片,采用8引脚MiniDIP通孔封装。该器件专为检测金属物体的接近而设计,内部集成了振荡器、检测电路与输出驱动,仅需搭配一个外部LC谐振线圈即可构成完整的非接触探测单元,极大简化了系统设计。

其核心优势在于高可靠性与环境适应性。芯片可在高达150°C的工作温度下稳定运行,典型供电电流为12mA,并具备良好的抗电源干扰能力,确保了在工业环境中的长期可靠工作。输出采用灵活的开关量形式,便于与后续控制电路接口。尽管目前已停产,它仍是理解经典感应探测架构和进行相关设备维护的重要参考器件。

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